產(chǎn)品詳情
產(chǎn)品優(yōu)勢
1. 鍍層檢測，最多鍍層檢測可達(dá)5層。
2. 對于薄鍍層分析精確，可以精確的分析小于1uin(0.025um）的鍍層，可以準(zhǔn)確分析0.2-0.5uin的金層。
3. 可同時進(jìn)行選配RoHS檢測功能，精確的測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。
4. 可同時進(jìn)行選配鍍液藥水分析功能，一分鐘即可分析出藥水內(nèi)金，鎳，銅等藥水含量，分析精度為0.01ppm，
5. 可同時進(jìn)行選配合金成分分析功能。
6. 開槽式超大可移動全自動樣品平臺620*525 (長*寬)，樣品移動距離可達(dá)220*220X10mm(長*寬*高) ；專為線路板行業(yè)研制。
7. 激光定位，可以連續(xù)自動多點程控測量；
8. 可以選配多準(zhǔn)直器系統(tǒng)，單準(zhǔn)直器/6個準(zhǔn)直器/7個準(zhǔn)直器。
9. 可檢測固體、液體、粉末狀態(tài)材料；
10. 運行及維護(hù)成本低、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低；
11. 可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性，半定量分析；
12. 操作簡單、易學(xué)易懂、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測結(jié)果（20-40秒）；
13. 標(biāo)配德國AmptekSI-Pin 探測器，選配高精度硅漂移SDD探測器，保證測試精度。
14. 軟件支持無標(biāo)樣分析。
15. 相對于傳統(tǒng)鍍層，開機(jī)不需要預(yù)熱，直接可以測量，測量后可以直接關(guān)機(jī)，節(jié)約用電，減少關(guān)鍵部件（X射線管，高壓等）消耗，并減少了等待時間。
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標(biāo)配 |
選配 |
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X射線管 |
高穩(wěn)定性X光管，使用壽命長（工作時間>15,000小時）。 MO (鉬)靶，鈹窗口， 光斑尺寸75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。 50kV，1mA，高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供性能。 |
高穩(wěn)定性微焦點X光管，使用壽命（工作時間>15,000小時）。 MO (鉬)靶，鈹窗口， 光斑尺寸50um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。 50kV，1mA，高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供性能。 |
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平臺 |
固定平臺 |
軟件程序控制步進(jìn)式電機(jī)驅(qū)動X-Y軸移動大樣品平臺。激光定位、簡易荷載最大負(fù)載量為5公斤，控制程序進(jìn)行持續(xù)性自動測量。 平臺尺寸：620*525mm (長*寬*高) 樣品移動距離：220*220X10 mm(X*Y*Z) |
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準(zhǔn)直器 |
單準(zhǔn)直器系統(tǒng) 0.2/0.3MM選1個 |
0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm共7種準(zhǔn)直器規(guī)格可選,客戶可最多選7種準(zhǔn)直器尺寸，可定制特殊尺寸準(zhǔn)直器。 |
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探測器 |
半導(dǎo)體Si-PIN 探測器，分辨率159eV， |
高分辨率硅漂移SDD探測器，分辨率可達(dá)到125eV. |
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濾光片 |
初級濾光片：Al濾光片，自動切換 |
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樣品定位 |
顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能 |
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視頻系統(tǒng) |
高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)。 觀察范圍：3mm x 3mm。 放大倍數(shù)：40X。 |
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附件 |
含計算機(jī)、顯示器、打印機(jī)、鍵盤、鼠標(biāo) |
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軟件 |
標(biāo)配Multi-Ray鍍層分析軟件 |
1、選配ROHS分析軟件 2、選配合金分析軟件 3、選配藥水分析軟件 |
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檢測元素范圍 |
Al (13) ~ U(92) |
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分析樣品類型 |
液體/固體/粉末 |
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三、產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說明
