產(chǎn)品詳情
一、應(yīng)用領(lǐng)域：大面積 3D 光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)
- 先進(jìn)制造業(yè)
- 考古學(xué)與古生物學(xué)
- 消費(fèi)類電子產(chǎn)品
- 醫(yī)療設(shè)備
- 模塑
- 光學(xué)
- 鐘表業(yè)
二、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1. 亞微米高度可重復(fù)性，可擴(kuò)展整個(gè)區(qū)域內(nèi)
2. 無需 Z 軸掃描即可測(cè)量 40mm 的單次測(cè)量高度
3. 具有極低場(chǎng)失真的雙側(cè)遠(yuǎn)心鏡頭，提供精確的測(cè)量
4. 可追溯性：采用ISO 標(biāo)準(zhǔn)
每一款 S wide 產(chǎn)品都是為提供準(zhǔn)確且可追溯的測(cè)量結(jié)果而制造的。系統(tǒng)根據(jù) ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)。
5. 與 3D CAD 模型的形狀偏差：提供幾何差異和公差測(cè)量
6. 表面紋理測(cè)量?jī)x器的校準(zhǔn)
我們的所有系統(tǒng)精心制造，提供準(zhǔn)確、可追溯的測(cè)量。系統(tǒng)按照符合ISO 25178第 7 部分關(guān)于下列參數(shù)的指南的可追溯標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)：Z 放大系數(shù)、XY 橫向尺寸、平面度誤差以及偏心度。
